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晶片外观缺陷设备

  • 更新时间:  2019-01-08
  • 产品型号:  
  • 简单描述
  • 晶片外观缺陷设备能够消除人眼检测中因疲劳而产生的错捡、漏捡可设置参数,检测规格统一。
详细介绍

       磁芯在制程加工步骤中难免会产生缺陷瑕疵,如: 裂纹、崩缺、结晶、脏污不良等等。单靠人力检测的质量控管是无法快速有效率跟上生产速度,更无法精准排除肉眼难判细微瑕疵。倍利精密的磁芯外观缺陷瑕疵视觉AOI(磁芯光学检测筛选机)是取代人力、精准快速、省钱省时间、值得投资的检测设备。

晶片外观缺陷设备应用行业:

  • 繞線電感鐵芯 (Core of Wire-wound Inductor)
  • 繞線電感成品 (Wire-wound Inductor)
  • NR電感鐵芯 (Core of NR Inductor)
  • NR電感成品 (NR Inductor)

项目流程:

晶片外观缺陷设备特性:

1。 消除人眼检测中因疲劳而产生的错捡、漏捡可设置参数,检测规格统一。

2.快速准确识别磁芯表面各种微小缺陷如崩缺、擦伤、污点、花面、划痕等。同时能够做到六面识别、分类等功能以及对缺银、弱划痕、弱斑点等检测。

3. 采用德国的超高分辨率相机,配合自主研发的高精确度算法,可实现每分钟100-1200颗的识别速度,精度达0.01mm,可远程监控,支持产品外型和结构的小范围变动,防止误检。


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